GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验低温试验测试目的是在于评价在贮存、工作和拆装操作期间,低温条件对装备的性、完整性和性能的影响。
GJB150.4A-2009适用于对军用设备进行低温试验。
一、GJB150.4A-2009军用装备低温试验可能激发的故障:
1、材料的硬化或脆化;
2、材料产生收缩,不同零部件膨胀率不同引起零部件咬死;
3、电子器件的性能发生改变;
4、减振架刚性增加;
5、破裂与龟裂、脆裂、冲击强度改变和强度降低。
二、GJB150.4A-2009军用装备低温试验包括三个程序:
程序一:贮存,程序二:工作,程序三:拆装操作。
三、GJB150.4A-2009军用装备低温试验的测试时间:
低温工作试验:低温温度点达到稳定后,设备带电保持2小时;
低温贮存试验:低温温度点达到稳定后,设备不工作保持24小时;
拆装操作低温试验:低温温度点达到稳定后,至少保持2小时;
四、GJB150.4A-2009军用装备低温试验测试方案:
低温工作试验:-40℃,带电工作2小时,结束后恢复至常温保持2小时,试验期间产品应能正常工作;
低温贮存试验:-55℃,贮存24小时,结束后恢复至常温保持2小时,试验后产品应能正常工作;
五、GJB150.4A-2009军用装备低温试验常规检测依据如下:
GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB367A-2001军用通信设备通用规范
GJB322A-1998军用计算机通用规范
GJB3947A-2009军用电子测试设备通用规范
GJB4.3-1983舰船电子设备环境试验低温试验
GJB4.4-1983舰船电子设备环境试验低温贮存试验
北京可靠性试验实验室通过了国家实验室CNAS、CMA资质认可,实验室获得了国家二级保密资格,可以接受的环境试验委托,实验室通过了GJB150.4A-2009及其他标准授权,可以实施军用设备的低温环境试验并出具国家认可的检测报告。